当前位置： 绝缘栅 >> 绝缘栅前景 >> 什么是半导体测试系统,如何进行ATE测试
半导体测试系统是一套专业针对半导体器件(如三极管、二极管、整流器、振荡器、发光器、放大器等)进行整体化测试的设备。它由工控机、硬件仪器以及测试软件三大部分组成，通过自动化程控实现测试项目的采集和数据的整体展示与储存，从初步测试到导出报告全程自动化。
半导体测试系统能够进行ATE测试。ATE测试是指自动测试设备(AutomaticTestEquipment)进行测试，主要用于对电子设备、集成电路IC和其他电子元件进行测试和验证。半导体测试系统针对半导体器件进行整体化测试，通过自动化程控实现测试项目的采集和数据的整体展示与储存。因此，半导体测试系统能进行ATE测试。
半导体芯片测试ATECLOUD智能云测试平台能测试半导体吗?
测试产品：芯片半导体器件。纳米软件ATECLOUD-IC芯片自动化测试系统适用于二极管、三极管、绝缘栅型场效应管、结型场效应管、单向和双向可控硅、普通和高速光耦、整流桥、共阴共阳二极管及多阵列器件等各类半导体分立器件综合性能自动化测试。
ATECLOUD-IC集成电路智能云测试平台被测项目：温度测试、耐电压测试、引脚可靠性测试、ESD抗干扰测试、运行测试、X射线侵入测试等。
测试场景：研发测试、产线测试、老化测试、一测二测等。
支持MCU、AnalogIC、ADC、HIC、IGBT及分立器件全方位测试；
ns级高精度同步测试；
人性化操作界面，可快速理解、快速上手；
无代码快速搭建测试工步，灵活调整可快速扩展；
支持多工位高速并行测试；
TECLOUD-IC集成电路芯片半导体自动化测试平台高效文持表征、功能评估和批量生产评估；
已兼容+仪器型号，包含是德、泰克、RS普源、鼎阳、艾德克斯等厂家，支持设备持续扩展；
具备数据洞察及大数据分析功能，为科研生产提供数据支撑；
适用于研发/中试/生产芯片全生命周期的应用。
