当前位置: 绝缘栅 >> 绝缘栅发展 >> 展商推荐北京芯准检测技术研究院有限公
?核心业务
可靠性测试:包括并且不限于HTS,HAST,HTOL,EFR,TS,TC,THB,PCT等;
军用元器件筛选:集成电路、分离器件、无源器件;
可靠性改进依托资深工程师十几年的可靠性实践经验,为客户提供失效原因分析、可靠性方案改善、ESD保护电路设计改进等增值服务;助力客户产品的可靠性性能提高,更快的得到市场认可。
?配套服务
破坏性物理分析、失效分析:物性分析,电性分析等;
封装服务:封装验证型:研磨、切片、挑样,工程验证型封装:DIP、QFP、BGA等等,量产型封装:DIP、QFP、BGA等等;
工艺可靠性测试:HCI,NBTI,GOI,TDDB,EM,SM等等;
器件电性验证:器件功能验证,特殊电性波形调试。
02特色测试服务-氮化镓芯片可靠性测试支持频段MHzto3GHz,MHzto12GHz,2GHzto18GHz,26to40GHz,58to62GHz,76to78GHz;
支持不同的通道容量,在2个立式19寸机架中最多16个独立控制的通道;
采用创新的测试夹具,可在高达毫米波频率和高达°C的器件基板温度下工作,同时支持两种以上的商用封装类型;
高射频驱动电平能力(每通道高达50W);
直流偏置电源选项范围,从适用于小型器件(GaAsHBT、SiGe)的高分辨率/低功率电源到适用于高功率射频器件(GaN、LDMOS)的每通道W高功率电源;
支持特定应用测试的各种调制类型信号(脉冲DC/RF、WCDMA);
支持集成外部表征仪器,例如半导体参数分析仪、网络分析仪,可监测和表征DC/RF在不同温度下变化。
03特色测试服务-碳化硅芯片可靠性测试功率循环测试设备集功率循环测试和瞬态热测试功能于一体,同时可以“在线”给出分析诊断,大大缩短测试时间。技术人员和工程师能够看到失效的发展过程,并确定确切的时间/循环次数以及原因;
实现最多8个被测电力电子器件同时测试;
操作中可采用不同的功率循环策略(稳定的功率开/关时间、稳定的壳器件温度变化、稳定的结温度上升);
提供“实时”结构函数诊断功能,以显示失效发展过程、循环次数及失效原因;
避免在实验室内进行事后分析(X光、超声波、视觉)或破坏性失效分析;
可通过触摸屏进行设置和控制,专业人员和生产人员都能使用;
支持金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)、绝缘栅双极型晶体管(IGBT)和功率二极管进行功率循环测试。
诚挚邀请本司将参加年6月29日-7月1日在重庆国际博览中心举办的第四届全球半导体产业(重庆)博览会,此次展会以“集智创芯、共塑未来”为主题,展示面积达㎡,参展企业预计达家,全球半导体、集成电路、芯片及研发设计等企业参展,集中展示新产品、新技术,邀请名专业观众参观,同期还将举办“第四届未来半导体产业发展大会”论坛活动,组委会将尽全力打造最专业的上下游交流合作平台。
北京芯准检测技术研究院有限公司诚邀您参加本次展会,届时共同分享半导体产业创新产品、技术及解决方案,充分彰显企业高端品牌形象!
全球半导体产业(重庆)博览会参展:韩龙--参会:江铃--参观:张强--媒体:冯中琼--