当前位置: 绝缘栅 >> 绝缘栅介绍 >> 台积电工艺弊端暴露,4nm芯片再现功耗问
台积电没想到,引以为傲的高端制程芯片,竟然也会翻车。多款4nm芯片,被爆发热量大、功耗高,其中就有台积电生产的天玑芯片。
如今的台积电,已向2nm芯片量产发起冲刺,在高端芯片领域,似乎难逢敌手。最近却有不少网友反应,天玑芯片的发热量超出预期,似乎并没有当初说得那么好。
这就奇怪了,芯片的工艺制程越高,不应该是功耗越低吗?为何台积电的芯片,功耗反而会逆向而行?如此看来,台积电工艺的弊端,或许已经暴露。
根据登纳徳缩放比例定律,芯片工艺制程越高,意味着芯片的尺寸会减小,芯片工作时,产生的电流和电压,也会下降。
再加上刻蚀、封装等工艺的提升,按理说,芯片工艺制程越高,芯片的功耗和发热量,也会随之降低。
台积电在量产5nm芯片时,就大张旗鼓地宣传,表示在同样的性能情况下,5nm芯片的功耗,会比7nm芯片下降30%。如果在相同功耗下,5nm芯片的性能,则可以提升15%以上。
光说不练假把式,如今4nm芯片却被爆出功耗高,发热量大,背后的原因是什么呢?
登纳徳缩放比例定律本身没有错,但是台积电避重就轻,向外界宣传时,忽略了另外一个重要因素。
一枚小小的芯片,里面有上百亿的晶体管,而且分布着复杂的电路。我们可以将芯片,比作一个被缩小了几万倍的电路系统,而这个电路系统中,同样有绝缘部分和导电部分。
芯片尺寸变小,确实可以给设备上的其他部件,留出更大的空间,但芯片内部的另一个问题,也会被放大。
芯片尺寸越小,意味着沟道的长度也会缩短,留给沟道中的S和D的距离也会越来越短。S是指源,D代表漏,两者越来越近,会导致栅极对沟道的控制能力变差。
什么意思呢?就是栅极电压夹断沟道的难度变大,有可能会出现严重的漏电现象,导致芯片发热量变大、功耗升高,这种现象也被称为短沟道效应。
在很多大型生产车间内,工程师在进行电路设计时,不同的线路、设备,都会有一个安全距离。说白了,就是芯片内部的结构,相互之间的安全距离太小了,导致了这种漏电现象。
短沟道效应并不是不能避免,但是台积电目前生产的芯片属于鳍式场效应晶体管,也就是我们常说的FinFET结构。
在7nm芯片之前,这种结构确实优势明显,但是随着芯片工艺制程越来越高,尺寸越来越小,短沟道效应也越来越明显。
也就是说,台积电生产的芯片发热量大、功耗高,是芯片的底层结构出了问题,而且以目前的技术,还很难避免。
如果不出意外,即便台积电的2nm芯片实现量产,可能也很难避免短沟道效应带来的漏电现象。
表面上看,台积电的芯片工艺制程突飞猛进,将同行们远远甩在了后面,但是台积电的工艺,真的就完美无缺吗?
目前看来,似乎并不是这样,要想解决短沟道效应,就得从芯片材料、芯片结构、栅极布局等多方面,进行重新考量。
不仅如此,台积电的芯片工艺路线,设备成本高,耗电量大,导致芯片的成本也居高不下。随着芯片工艺制程的不断提升,台积电生产的芯片成本,还会不断上涨。
芯片越卖越贵也就算了,而且芯片本身的综合性能,也并没有台积电吹捧的那般天花烂醉,台积电危矣。
作为全球最大的芯片代工厂,台积电工艺被很多人认为完美无缺,其实窥探技术本身,台积电也不过是避重就轻,抓住了市场的痛点,虽然提升了芯片的工艺制程,却在功耗等方面,埋下了隐患。
如今,日韩、欧美,甚至俄罗斯,都宣布要自研芯片。一旦有新的高制程工艺出现,如果能降低生产成本,并解决短沟道效应问题,未来又还有台积电什么事呢?
所以,台积电并不是高枕无忧,随着全球半导体研发热潮的掀起,台积电过去的优势将逐渐消失,而它的短板也将逐渐被暴露。
再加上台积电对芯片供应的区别对待,如果台积电还不作出改变,未来可能就江湖地位不保了。