当前位置: 绝缘栅 >> 绝缘栅介绍 >> 听说你的电子元器件已经老化了电子元器件
电子元器件老化是指电子元器件在使用过程中,由于环境温度、湿度、电压、电流、紫外线等因素的影响,使元器件的性能发生变化,从而影响元器件的使用寿命。电子元器件老化的主要表现有:电容器的容量变小,电阻的阻值变大,二极管的电流变小,晶体管的电流变小,发射管的电流变小,电感的电感值变小,电容器的损耗变大,电阻的损耗变大,二极管的损耗变大,晶体管的损耗变大,发射管的损耗变大,电感的损耗变大等。电子元器件老化会对电子设备的性能产生不利影响,因此,应采取有效措施,降低电子元器件老化的影响,以保证电子设备的正常使用。
提到“老化”,你是否会联想到
老化的皮肤?生锈的铁?树木老化?
那你还知道我们日常生活使用的电子产品也会出现老化现象,在电子产品在加工过程中,由于经历了复杂的加工和元器件物料的大量使用,无论是加工缺陷还是元器件缺陷,都可分为明显缺陷和潜在缺陷,明显缺陷指那些导致产品不能正常工作的缺陷,例如短路/断路。而潜在缺陷导致产品暂时可以使用,但在使用中缺陷会很快暴露出来,产品不能正常工作。潜在缺陷则无法用常规检验手段发现,而是运用老化的方法来剔除。如果老化方法效果不好,则未被剔除的潜在缺陷将最终在产品运行期间以早期失效(或故障)的形式表现出来,从而就会导致产品返修率上升,维修成本增加。
因此针对电子元器件的老化问题,它的检测就必不可少。
纳米软件研发的NSAT-电子元器件自动测试系统主要对电子系统的某些关键器件、设备及芯片,在加速寿命退化后,对代表其性能退化的电参量进行测试。同时还适用于二极管、三极管、绝缘栅型场效应管等元器件的穿透电流、最大整流电流、正向压降等参数的测试,获取测试数据时,用户可以根据数据更直观的了解到产品的质量与可靠性。
电子元器件自动测试系统NSAT-详细介绍
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